اندازه گیری میزان تأثیر تابش نوترون بر ثابت آسیب جریان معکوس α دیود

هنگامی که قطعات الکترونیکی در معرض تابش نوترون قرار می گیرند بر اثر اندرکنش های نوترون در این قطعات، مشخصات الکتریکی آنها مانند ظرفیت خازنی، جریان بایاس معکوس، طول عمر حامل اقلیت و غیره ... تغییر می کنند. این تغییرات بسیار مهم است تا آنجا که ممکن است عملکرد قطعه را مختل کرده و آن را از کار بیندازد. بنابراین اندازه گیری میزان آسیب ناشی از نوترون در این قطعات بسیار ضروری است. یکی از مهم ترین پارامترهایی که در بیان آسیب وارده به قطعات الکترونیکی به کار می رود، ثابت آسیب جریان معکوس αاست. این ثابت (α)، شیب نمودار جریان معکوس بر حسب شارش است که نشان دهنده تغییرات جریان معکوس بر حسب شارش است. هدف از انجام این کار اندازه گیری ثابت آسیب جریان معکوس αبرای دیودهای 1n4007، byv27و byv95در ولتاژها و دماهای مختلف است. این دیودها در راکتور تحقیقاتی تهران پرتودهی شدند و نتایج به دست آمده با روابط تئوری انطباق خوبی دارد.